
Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document :
https://hdl.handle.net/20.500.12177/13045Affichage complet
| Élément Dublin Core | Valeur | Langue |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | Sissoko, Grégoire | - |
| dc.contributor.author | Gueye, Séga | - |
| dc.date.accessioned | 2025-10-29T09:27:55Z | - |
| dc.date.available | 2025-10-29T09:27:55Z | - |
| dc.date.issued | 2014-05-31 | - |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12177/13045 | - |
| dc.description.abstract | Une étude bibliographe sur les techniques et les méthodes de détermination de certains paramètres électriques en régime dynamique fréquentiel a été présentée dans le chapitre I. Dans le chapitre II, l’étude théorique de la photopile, en régime dynamique fréquentiel, sous éclairement monochromatique est faite pour l’ensemble des trois modes d’éclairement. De cette étude nous avons la densité de porteurs de charges minoritaires photocréés dans la base de la photopile et tracé son profil pour l’ensemble des trois modes d’éclairement et pour différentes valeurs de la longueur d’onde et de la pulsation angulaire. A partir de la densité de porteurs une étude du photocourant, de la phototension a été effectuée le profil de la caractéristique courant-tension a permis de déterminer les résistances séries et shunt de la photopile bifaciale. Les diagrammes de Nyquist et de Bode de l’impédance électronique sont effectués. Diagrammes à partir desquels les circuits équivalents ont étés proposés. Dans le chapitre III nous avons étudié le comportement thermique de la photopile bifaciale en établissant la variation de la température dont nous avons tracé les profils en fonction de la profondeur dans la base et en fonction des vitesses de recombinaison à la jonction et à la face arrière. Partant de la variation de la température une méthode de détermination de la densité de flux de chaleur est établie et le profil représenté en fonction de la profondeur dans la base. La vitesse de recombinaison à la jonction et à la face arrière pour différentes longueurs d’ondes et différentes valeurs de la pulsation angulaire quand l’éclairement s’est effectué par la face avant, arrière et simultanée des deux faces. L’impédance thermique a été déterminée ainsi que les diagrammes de Nyquist et de Bode de l’impédance thermique. Enfin l’étude est bouclée par la détermination de la phase de l’impédance thermique pour les trois modes d’éclairement | fr_FR |
| dc.format.extent | 152 | fr_FR |
| dc.publisher | Université Cheikh Anta Diop | fr_FR |
| dc.subject | Photopile bifaciale | fr_FR |
| dc.subject | Régime dynamique fréquentiel | fr_FR |
| dc.subject | Résistance série | fr_FR |
| dc.subject | Résistance shunt | fr_FR |
| dc.title | Etude en régime dynamique fréquentiel d’une photopile bifaciale sous éclairement monochromatique : Détermination des paramètres électriques et son comportement thermique | fr_FR |
| dc.type | Thesis | - |
| Collection(s) : | Thèses soutenues | |
Fichier(s) constituant ce document :
| Fichier | Description | Taille | Format | |
|---|---|---|---|---|
| N°_227_These_Sega_Gueye.pdf | 2.88 MB | Adobe PDF | ![]() Voir/Ouvrir |
Tous les documents du DICAMES sont protégés par copyright, avec tous droits réservés.
